Il Lato Rosa della Scienza: un percorso formativo di Alternanza Scuola Lavoro

Guido Righini; Lisa Agostini; Emanuele Vincenzo Scibetta; Augusto Pifferi

doi:10.30441/smart-elab.v10i0.198

Autori

Guido Righini C.N.R. - Istituto di Cristallografia
Lisa Agostini C.N.R. - Istituto di Cristallografia, Università degli Studi Roma 3.
Emanuele Vincenzo Scibetta C.N.R. - Istituto di Cristallografia, Università degli Studi di Tor Vergata - Roma
Augusto Pifferi C.N.R. - Istituto di Cristallografia

DOI:

https://doi.org/10.30441/smart-elab.v10i0.198

Parole chiave:

Alternanza Scuola Lavoro, Scrittura Collaborativa online, wiki, Mostra Divulgativa

Abstract

"Il Lato Rosa della Scienza" è il titolo della mostra didattica realizzata dagli studenti del Liceo Scientifico "G. Peano" di Monterotondo, coordinati dai ricercatori dell’Istituto di Cristallografia del C.N.R., nell’ambito del percorso formativo di Alternanza Scuola Lavoro. Questo percorso forma- tivo, intitolato "Scienza 2.0 e Editoria Digitale Accademica", è stato progettato con l’obiettivo di far acquisire agli studenti competenze informatiche sulle nuove tecnologie di internet, utili alla realizzazione collaborativa di prodotti editoriali digitali.

Il presente articolo descrive come si è articolato il progetto, le tecnologie di internet utilizzate e i prodotti editoriali realizzati dagli studenti. La mostra è visitabile, in forma virtuale, sulle piattaforme informatiche dell’Istituto di Cristallografia e del Liceo Scientifico "G. Peano".

Biografia autore

Guido Righini, C.N.R. - Istituto di Cristallografia

Dott. Guido Righini

C.N.R. - Istituto di Cristallografia, Italia

Titolo di studio: Laurea in Chimica con 110/110 e lode (Università degli studi "La Sapienza" Roma, 1990);

Dipendente del Consiglio Nazionale delle Ricerche dal 1981.

Attività di Ricerca
Studio delle proprietà chimico-fisiche dei materiali, in relazione alle variazioni strutturali sia elettroniche che cristalline. Per questo studio si avvale delle seguenti tecniche strumentali:

Spettrometrie elettroniche di superficie (X-Ray Photoelectron Spectroscopy, Auger Electron Spettroscopy, Scanning Electron Microscopy);
Diffrazione di raggi X da polveri (XRPD).