Allestimento di una postazione per la diffrazione dei raggi X per l’analisi di materiali cristallini.

Ombretta Tarquini; Antonello Ranieri; Marcello Colapietro; Augusto Pifferi

doi:10.30441/smart-elab.v3i0.88

Allestimento di una postazione per la diffrazione dei raggi X per l’analisi di materiali cristallini.

Autori

Ombretta Tarquini C.N.R. - Istituto di Cristallografia
Antonello Ranieri C.N.R. - Istituto di Cristallografia
Marcello Colapietro C.N.R. - Istituto di Cristallografia
Augusto Pifferi C.N.R. - Istituto di Cristallografia

DOI:

https://doi.org/10.30441/smart-elab.v3i0.88

Parole chiave:

XRD, Strumentazione per diffrazione, imaging Plate

Abstract

Presentazione di una postazione per diffrazione X realizzata ricondizionando un diffrattometro a raggi X della Marresearch con rivelatore Image Plate ed equipaggiato con una sorgente a bassa potenza. Modifiche Hardware e applicazioni. (rapporto tecnico IC 13/08 registrato con numero di protocollo IC/1871 del 19/12/2013).

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Pubblicato

2017-08-30

Come citare

Tarquini, O., Ranieri, A., Colapietro, M., & Pifferi, A. (2017). Allestimento di una postazione per la diffrazione dei raggi X per l’analisi di materiali cristallini. SMART ELAB, 3, 1–5. https://doi.org/10.30441/smart-elab.v3i0.88