Advanced X-ray Characterization of Hierarchical Systems: from Biotissues to Electronic Devices

Davide Altamura; Francesco Scattarella; Alberta Terzi; Teresa Silillano; Rocco Lassandro; Liberato De Caro; Dritan Siliqi; Massimo Ladisa; Cinzia Giannini

doi:10.30441/smartelab.v16i.120

Advanced X-ray Characterization of Hierarchical Systems: from Biotissues to Electronic Devices

Autori

Davide Altamura CNR - Istituto di Cristallografia, Via Amendola 122/O, 70126 Bari, Italy
Francesco Scattarella CNR – Istituto di Cristallografia, Via Amendola 122/o – 70126 Bari
Alberta Terzi CNR – Istituto di Cristallografia, Via Amendola 122/o – 70126 Bari
Teresa Silillano CNR – Istituto di Cristallografia, Via Amendola 122/o – 70126 Bari
Rocco Lassandro CNR – Istituto di Cristallografia, Via Amendola 122/o – 70126 Bari
Liberato De Caro CNR – Istituto di Cristallografia, Via Amendola 122/o – 70126 Bari
Dritan Siliqi CNR – Istituto di Cristallografia, Via Amendola 122/o – 70126 Bari
Massimo Ladisa CNR – Istituto di Cristallografia, Via Amendola 122/o – 70126 Bari
Cinzia Giannini CNR – Istituto di Cristallografia, Via Amendola 122/o – 70126 Bari

DOI:

https://doi.org/10.30441/smartelab.v16i.120

Abstract

oral communication at 1^st Conference on Crystallography, Structural Chemistry and Biosystems, (Catania)

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PDF (English)

Pubblicato

2021-10-01

Come citare

Altamura, D., Scattarella, F., Terzi, A., Silillano, T., Lassandro, R., De Caro, L., Siliqi, D., Ladisa, M., & Giannini, C. (2021). Advanced X-ray Characterization of Hierarchical Systems: from Biotissues to Electronic Devices. SMART ELAB, 16, 12. https://doi.org/10.30441/smartelab.v16i.120